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詳細摘要： 粉體電阻率是粉末的一種重要的物理性能之一,堆積或者混合后其電阻率有別于固體和單顆粒的物理性能。如果粉末用于制造人們需要的新材料并希望其在產(chǎn)品中保持顆粒狀態(tài)那么檢...

詳細摘要： 科技快速進步，電子半導(dǎo)體的開發(fā)及應(yīng)用，往往會應(yīng)產(chǎn)品的需求而相對提高成品組合間的品質(zhì)，如:阻抗、阻抗率。目前在半導(dǎo)體業(yè)間常需要此阻抗、阻抗率的數(shù)據(jù)來了解其相互之間...

詳細摘要： 用于研究開發(fā)、質(zhì)量管理線，執(zhí)行粉體之物性管理與阻抗率計Loresta-GX(MCP-T700),Hiresta-UX(MCP-HT800)連接，以測定廣范圍之粉...

詳細摘要： MCP-T360已經(jīng)停產(chǎn)，替代品為MCP-T370.新品MCP-T370之附件均可以應(yīng)用于MCP-T360上。

詳細摘要： MCP-HT450介紹表面阻抗儀主要應(yīng)用于對樣品表面涂層，表面鍍膜，表面油漆,表面貼面及電路板等形式的高阻抗測量，使用MCP-HT450以確定樣品的表面是否均勻...

詳細摘要： 導(dǎo)電性油漆、導(dǎo)電性糊狀物、導(dǎo)電性塑料、導(dǎo)電性橡膠、導(dǎo)電性薄膜、金屬薄膜、抗靜電材料、 EMI 防護材料、導(dǎo)電性纖維、導(dǎo)電性陶瓷等。應(yīng)用于低阻抗測量范圍，帶 4 ...

詳細摘要： MCP-T370四探針恒定電流測試原理；一觸式高精度測量各種材料的表面電阻率。查找只需按下啟動按鈕，確認自動測量功能，可自動保持當前的測量值。

詳細摘要： 基于4探針測試原理可以精準而快速的測試材料的低電阻特性;4-pin測試原理可以有效消除探頭接觸樣品的接觸電阻及導(dǎo)線的電阻；MCP系列鍍金彈簧探針針距恒定，且與測...

詳細摘要： Hiresta-UX可攜帶式TFT液晶高性能高阻率計MCP-HT800可用于生產(chǎn)、質(zhì)量控制、研究開發(fā)